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非本征半導體材料導電類型的標準測試方法
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發(fā)布日期:[2025-09-17] 共閱[238]次 |
導電型號測定儀是按ASTM F42(非本征半導體材料導電類型的標準測試方法)中的熱探針法設計的導電類型鑒別儀。 本儀器熱探筆內(nèi)裝有加熱和控溫組件,自動加熱并使溫度維持在40-60℃范圍內(nèi),冷熱探筆在半導體材料上產(chǎn)生的熱電動勢,經(jīng)運算放大器放大后,用寬表面檢流計指示型號方向,并可定量測出熱電流的數(shù)值大小??稍陔娮杪剩◤?000Ω·cm高阻單晶到10^-4Ω·cm重摻單晶)范圍內(nèi)判別半導體材料型號。 規(guī)格參數(shù): 可判別鍺、硅材料的電阻率范圍: 鍺:非本征鍺~10^-4Ω·cm 硅:10^4~10^-4Ω·cm 在室溫情況下,對于電阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅。 熱電流測量范圍:0~±1μA分六個量程:±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA 靈敏度:1×10^-11A/格 鍺、硅單晶直徑、長度:不限 顯示方式:刻度為零位的寬表面指針指示器,指針向正方向偏轉被測樣品為P型,指針向負方向偏轉被測樣品為N型。 探針類型:不銹鋼探針,針尖為60°錐體,熱筆溫度在40-60℃范圍內(nèi)。冷筆與室溫相同。 供電電源:AC 220V 50Hz 外形尺寸:168×157×228mm 產(chǎn)品重量:2kg 導電型號測試儀 熱電法(便攜,寬表面指針式)
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