 |
公司名稱：北京中慧天誠科技有限公司
地址：北京市石景山區(qū)城通街26號
電話：010-89942170，89942167
傳真：010-89942170
郵編：100055
手機：15652257065
聯(lián)系人：劉經(jīng)理
網(wǎng)址：m.fzzww.com
郵箱：675314505@qq.com
|
 |
|
|
|
| |
| |
|
產(chǎn)品型號： |
KDKLT-1B |
產(chǎn)品名稱： |
高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）KDKLT-1B |
產(chǎn)品報價： |
|
產(chǎn)品特點： |
高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）KDKLT-1B |
|
| |
KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）KDKLT-1B的詳細資料： |
高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）
型號：KDKLT-1B | 貨號：ZH8203 | 產(chǎn)品簡介:
τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數(shù)字示波器
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。
設備組成
1.光脈沖發(fā)生裝置:
重復頻率>25次/s
脈 寬>60μｓ
光脈沖關斷時間＜1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）
脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.高頻源:
頻 率：30MHz低輸出阻抗
輸出功率>1W
放大器和檢波器:
頻率響應：2Hz～2MHz
3.配用示波器：
配用示波器：頻帶寬度不低于10MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調。
測量范圍：
可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥0.1Ω·㎝（歐姆·厘米）
壽命值的測量范圍：5～6000μｓ（微秒）
| 
| |
| 產(chǎn)品相關關鍵字： 高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）KDKLT-1B |
| 如果你對KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用）KDKLT-1B感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
|
| |
|
| |
|
|
點擊放大
